• 作者： Hwang, Ying-Hwa; Lin, Chun-I; Chen, Hsi-Kuei
• 中文摘要： 本文提出一個新的X光繞射分析方法。利用此一新的分析技巧,我們可以對部份氮化反應的金屬鈦顆粒做不同位置之成份組成分析,藉由此一定量分析方法, 即可判斷金屬鈦顆粒氮化反應在不同反應條件下之反應模式。
• 英文摘要： The purpose of this paper is to introduce a new X-ray diffraction (XRD) method. Using this new analysis method, the component of partially nitrided titanium pellet for different positions in the direction of pellet thickness can be determined and the reaction model for the nitridation of titanium pellet can be predicted.
• 中文關鍵字： 部份氮化鈦顆粒; X光繞射
• 英文關鍵字： Partially Nitrided Titanium Pellet; X-Ray Diffraction